数字式四探针测试仪型号:SZT

北京京晶科技有限公司

主营产品: 手持式钢化玻璃测平仪,乳品杂质度过滤机,不锈钢溶液过滤器,全自动萃取仪,电话铃声放大器,电动倒角器


 

数字式四探针测试仪型号:SZT-I
SZT-I型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理 的多用途综合测量装置。它可以测量片状、快状半导体材料径向和轴向电阻率,测量片状半导体材料的电阻率和扩散层的薄层电阻(方块电阻),换上特制的四探针测试夹,还可以对金属导体的低中值电阻进行测量。此外,探针经过特殊加工后,还可以测量薄膜材料电阻率。广泛适用于半导体材料、器件厂、高等院校化学物理系、科研单位,对半导体材料的电阻性能测试。
本仪器测试探头采用宝石导向轴套和高耐磨碳化钨探针,定位准确,游移率小,使用寿命长。
技术参数:
1. 测量范围:
电阻率:10的-4次方~10的3 次方 -cm
方块电阻:10的-3次方 ~10的4 次方 /□
电阻:10的-6次方 ~10的5 次方
导电类型鉴别:电阻率范围 10的-4 次方~10 的3次方 cm
2. 可测半导体材料尺寸
直径: 15~100 mm
长度: 400mm
3. 测量方法:
轴向、断面均可
4. 显示方式:31/2,数显,极性、过载自动显示,小数点、单位自动显示。
5. 恒流源:
(1) 电流输出:直流电流0~100 mA连续可调。
(2) 量程:10、100 A、1、10、100mA
(3) 误差: 0.5%读数 2个字
6.四探针测试探头
(1) 探针间距:1mm
(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率: 1.0%
7.电源:220 10% 50Hz或60Hz 功耗:<35W

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